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顯微鏡型相位差測量儀

產品系列:透過率材料應力檢測

產品型號:NMH-02

產品品牌:

WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其先進的光子晶體制造技術開發的內應力測量測試系統;適用于高相位差樣品的顯微表征,針對鋼化玻璃和光學薄膜剖面的殘余應力評估,亦可用于測量球晶、金屬晶體的應力檢測等。

  • 操作簡單,測量速度可以快到3秒
  • 采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣
  • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據
  • 具有多種分析功能和測量結果的比較
  • 穩定可靠
  • 鋼化玻璃和光學薄膜等研發工具
  • 球晶、金屬微納晶體等
  • 高分子結晶
型號WPA-micro
測量范圍0~ 3OO0nm
重復性<1.0nm
像素數384×288(≒100萬)pixels
測量波長523nm,543nm,575nm
尺寸250×487×690mm
觀測到的大面積鏡頭:5倍:約1.1×0.8 mm 10倍:0.5×0.4mm 20倍:約270×200μm 50倍:約110×80μm 100倍:約 55× 40μm
重量約11kg
數據接口GigE(攝像機信號)  RS-232(控制馬達) 
電壓電流AC100-240V(50/60Hz)
軟件WPA-View(for WPA-micro)