背景
自成立以來，CRAIC 一直專注于紫外、可見和近紅外區域的光學工具。產品包括顯微分光光度計（也稱為顯微光譜儀或顯微鏡光譜儀），能夠獲取小于微米的樣品光譜。CRAIC 還設計和制造了紫外-可見-近紅外系列顯微鏡。可以從任何顯微樣品中無損地獲取全光譜范圍的熒光、透射和反射光譜和圖像，并且無需接觸這些工具。除了半導體檢測和制藥計量等行業的專用系統外，CRAIC 還生產科學級系統。CRAIC 還制定了 NIST 可追溯標準，這是世界上唯一專門為顯微分光光度計設計的標準，以及專門的軟件包。
CRAIC 專注于以下微觀分析技術
- 紫外-可見-近紅外顯微光譜
- 紫外-可見-近紅外顯微鏡
- 微量比色法
- 透射顯微光譜學和顯微鏡
- 反射顯微光譜學和顯微鏡
- 熒光顯微光譜和顯微鏡
- 偏振顯微光譜學和顯微鏡
- 顯微拉曼光譜
- 動力學顯微光譜學
- 薄膜厚度測量和繪圖
- 光譜建模
產品系列
- 紫外-可見-近紅外顯微分光光度計
- 紫外-可見-近紅外顯微鏡
- 拉曼顯微分光光度計
- 彩色顯微分光光度計
- 透射顯微分光光度計&顯微鏡
- 反射顯微分光光度計&顯微鏡
- 熒光顯微分光光度計&顯微鏡
- 偏振光顯微分光光度計&顯微鏡
- 膜厚度測量
- 光譜modeling等
產品概述
UVM-1是一款同時能在可見光和近紅外范圍內成像的紫外顯微鏡。該顯微鏡體現了先進的光學技術——紫外-可見-近紅外成像和可視化功能。該系統設計靈活，操作簡便并且經久耐用。它采用最前沿的CRAIC光學技術設計，即便使用多年仍可提供絕佳的成像質量。UVM-1顯微鏡集透射成像，反射成像，偏振成像，以及紫外至近紅外范圍內的高空間分辨熒光成像于一身，甚至無需要調換元件便可任意切換使用。
產品特點
紫外光譜儀，在紫外-可見-近紅外范圍對顯微樣品成像
- 深紫外顯微鏡
- 可見光范圍顯微鏡
- 近紅外顯微鏡，無需要調換光學元件便可實現在不同波段的切換使用
- 結合Apollo可測顯微樣品的拉曼光譜
- 顯微樣品的透射，反射，熒光和偏振成像，集多種功能于一身
- 高分辨數字成像，且可通過目鏡直接可視化成像
- 易于使用和維護
產品系列主要應用
- 分子結構分析
- 蛋白質晶體
- 浮游生物顯微光譜
- 組織分析
- 體內顯微光譜
- 體外顯微光譜
- 動力學光譜
- 組合化學
- 藥物開發
產品技術規格
| 顯微鏡光譜范圍 | 200-2500 nm |
| 透射成像 | 可獲得 |
| 反射成像 | 可獲得 |
| 熒光激發 | 254-546 nm |
| 偏振成像 | 可獲得 |
| 視場（直徑） | 40-2400 μm |
| 高分辨紫外成像 | 可獲得 |
| 高分辨近紅外成像 | 可獲得 |
| 紫外-可見-近紅外目標 | 可獲得 |
| TE制冷固體結構傳感器 | 可獲得 |
| 顯微鏡自動化 | 可獲得 |
產品系列列表
